平（柱）近场天线测试系统

概述
天线近场测试系统是在满足近场或远场条件下，控制扫描架或转台、微波仪表、软件及缆线协同工作，共同完成近场探头或天线转动、数据采集、数据处理、数据显示与输出的专业测试系统。

组成
天线近场测量系统由微波暗室子系统、扫描控制子系统、射频微波子系统、数据采集子系统等组成。

功能
扫描架位置及寻零设置功能；
探头设置功能；
频率、信号源设置功能；
软件能够进行天线的线极化、交叉极化和圆极化性能分析；
软件开放测试数据的数据结构和数据格式，允许用户对测试数据进行导入或导出，可对用户导入的近场更改后的数据进行远场性能计算分析和结果输出；
根据采集的近场数据，软件可以快速变换出被测天线的三维远场方向图；允许用户选择多种输出坐标系等，在给定的坐标系和计算范围内，自动找出波瓣的最大点，并按两个坐标方向切面获得二维远场方向图；
具备VBscript二次脚本开发功能。支持多多频、多波位、多通道测试功能。

性能：

工作频段：0.8GHz～18GHz；

系统动态范围：≥70dB；

系统增益精度：≤±0.3dB（标准增益喇叭误差除外）；

系统稳定性：≤±0.1dB；

副瓣电平测试精度：-20dB副瓣时≤±0.3dB；-30dB副瓣时≤±1.0dB；

波瓣宽度测试精度：≤波束宽度的3%

多频多波位多通道位数（测试多任务控制器TTL位数）：16位。